Test de composants électroniques

Le test de composants électroniques est notre activité historique. Depuis plus de 20 ans, nous avons testé plus de 5 000 références de composants, toutes technologies confondues : du transistor au processeur, du MOSFET de puissance au FPGA et de l’optocoupleur au microcontrôleur.

Nous testons tous les types d’effets : TID, SEE – ions lourds, protons, neutrons – TNID, selon les normes en vigueur ECSS et MIL-STD.

L’ensemble de notre équipe « test » possède la double compétence électronique et radiation : une garantie pour une optimisation des coûts et une qualité de service optimale.

La dose cumulée – test TID – peut dégrader les paramètres électriques et fonctionnels d’un composant électronique, pouvant aller jusqu’à sa destruction. TRAD conçoit des bancs de test permettant de mesurer les dérives électriques des composants après différentes étapes d’irradiation, avec des débits de dose différents en fonction de la technologie testée.

Les tests SEE sont réalisés sous ions lourds, neutrons et protons. TRAD conçoit des bancs de test permettant de mesurer les taux d’occurrence de SEU (Single Event Upset MBU, MCU), SET (Single Event Transient), SEL (Single Event Latch up), SEFI (Single Event Functional Interrupt) et tout autre effet dit “singulier”.

Pour chaque test, TRAD fournit un rapport complet reprenant toutes les données d’entrée – spécifications, plans de test, traçabilité complète des bancs de test : cartes, appareils de mesure – les données de sortie – résultats de tests, analyses si demandées – permettant ainsi une exploitation rapide des résultats.

Afin d’optimiser le temps de mesure et les efforts de développement, TRAD dispose d’une gamme complémentaire de testeurs automatiques (ATM):

• Testeurs universels SZ
• Testeur µTest – MuTest
• Testeur Diamond D10 – Crédence

et de moyens d’irradiations:

• Source de Californium (Cf252)- VASCO
• Laboratoire de rayonnement Gamma (Co60) – GAMRAY
• Laser pulsé – YAG